日本原装 AE-MIC爱米克数字电容测量仪/AE-381A
实现从小容量到大容量的MLCC测量(测量频率1MHz/1kHz/120Hz)
实现从微小电容到大电容的MLCC的高速测量。
(测量频率1MHz/1kHz/120Hz)
作为编带工序的测量装置。
[特点]
■超高速:0.5msec.[1MHz]、1msec.[1kHz]、8.34msc.[120Hz](FAST测量期间的时间)
■通过检测测量值异常,即使在测量两个端子时也可以检测探头接触故障
■4 可进行端子接触检查
■测量频率:1MHz/1kHz/120Hz±0.1%(正弦波)
■串联等效电路、并联等效电路可切换
■恒定电压测量(不支持某些量程)
■tanδ:0 至 50.00%,可进行 Q 测量
■C 测量:41/2 位(15000)数字显示,内置比较器功能允许 HI/GO/LO 输出
■ RS-232C接口、打印机输出(Centronics兼容标准设备)(GP-IB可选)
■间歇性地施加测量电流,以减少探头/触点的磨损。
即使在测量过程中,测量值、统计值、日期、时间等也会输出到打印机
*请联系我们了解详细信息或下载目录。
■超高速:0.5msec.[1MHz]、1msec.[1kHz]、8.34msc.[120Hz](FAST测量时的时间)
■由于测量值异常检测,即使在2端子测量期间也检测到探头接触故障
■4-端子接触可检查
■测量频率:1MHz/1kHz/120Hz±0.1%(正弦波)
■串联等效电路、并联等效电路可切换
■恒定电压测量(不支持某些量程)
■tanδ:0 至 50.00%,可进行 Q 测量
■C 测量:41/2 位(15000)数字显示,内置比较器功能允许 HI/GO/LO 输出
■ RS-232C接口、打印机输出(Centronics兼容标准设备)(GP-IB可选)
■间歇地施加测量电流,以减少探头和触点的磨损。
即使在测量过程中,测量值、统计值、日期、时间等也会输出到打印机。
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应用/结果示例 |
作为需要高速测量和判断的编带过程的测量装置, 单个单元可以测量从微小体积到大体积的测量。 |